半导体AOI检测平台

SQ3000S 是一款一体化解决方案，配备了强大的工具，涵盖 AOI、SPI 和 CMM 应用的检测和测量。 SQ3000S 采用革命性的多重反射抑制® (MRS®) 技术，能够精确识别并消除由光亮部件引起的反射，从而提供无与伦比的精度。 有效抑制多次反射对于精确测量至关重要，因此 MRS 成为各种应用（包括对质量要求极高的应用）的理想技术解决方案。