半导体AOI检测平台

以生产速度实现计量级精度

SE3000 DD SPI 系统采用 MRS® 革新技术，通过精确识别和抑制由闪亮组件和反射焊点引起的反射，提供无与伦比的精度。至关重要的是，MRS 能够有效抑制多次反射，使之成为各种应用（包括质量要求非常高的应用）的理想技术解决方案。

CyberOptics 专有的多重反射抑制 (MRS) 传感器的分辨率已提升到更精细的水平。超高分辨率 MRS 传感器可增强 SE3000 DD 平台的功能，提供卓越的检查性能，非常适合更高水平的精度和检查可靠性至关重要的 0201 Metric 工艺和微电子应用。

无比灵活

SE3000 DD 3D 锡膏检测 (SPI) 系统是屡获殊荣的 SE3000™ 3D SPI 平台的扩展。双軌、双传感器系统可最大限度地提高灵活性，满足不同的 PCB 宽度需求。这一独特的设计能够检查大容量组件，方便在不同軌道上同时检查不同的组件和电路板尺寸，甚至从双軌模式切换到单軌模式，以检查超大电路板。

SE3000 DD 不仅提供 PCB 灵活性，还可以灵活选择两个相同或两个不同的专有 MRS 传感器。

快速、智能、易于使用的软件

SPI V5 系列软件通过直观的界面提供一流的用户体验，彻底改变用户与我们系统的交互方式。SPI V5 系列软件提供一系列革新功能，借助全方位的多点触控体验，实现更智能、更快速的检查。